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材料微觀形貌測(cè)試
超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡（JEM 2100F）超高分辨掃描電子顯微鏡（Nova NanoSEM 450）高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi SU8020）高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi S-4800 ）原子力顯微鏡（Multimode 8）原子力顯微鏡（NT-MDT Prima）
超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）
高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）
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高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）
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原子力顯微鏡（Multimode 8）
原子力顯微鏡（NT-MDT Prima）
高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)（SPI 3800N）
原子力顯微鏡（MFP-3D）
激光共聚焦顯微鏡（FV1200）
材料結(jié)構(gòu)成分分析
電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）多功能X射線光電子能譜儀（Kratos）俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）X射線粉末衍射儀（Advance D8）X射線單晶衍射儀（D8 Advance（達(dá)芬奇設(shè)計(jì)））X射線粉末衍射儀（島津?X-7000）電子探針X射線顯微分析儀（JAX-8230）
電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）
紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）
多功能X射線光電子能譜儀（Kratos）
俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）
多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）
X射線粉末衍射儀（Advance D8）
X射線單晶衍射儀（D8 Advance（達(dá)芬奇設(shè)計(jì)））
X射線粉末衍射儀（島津?X-7000）
電子探針X射線顯微分析儀（JAX-8230）
X射線熒光光譜儀（XRF-1800）
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
材料光學(xué)性能測(cè)試
熒光壽命測(cè)試儀（Quantaurus—Tau）吡啶紅外（尼高力 380）傅立葉紅外分光光度計(jì)（IRPrestige 21）紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)（Shimadzu UV3600）激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）橢偏儀（VB-400）瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）
熒光壽命測(cè)試儀（Quantaurus—Tau）
吡啶紅外（尼高力 380）
傅立葉紅外分光光度計(jì)（IRPrestige 21）
紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)（Shimadzu UV3600）
激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）
激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)
激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）
橢偏儀（VB-400）
瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）
原子吸收光譜儀（AAnalyst 800）
圓二色儀（Chirascan）
表面等離子體共振（Biacore 3000）
材料磁電性能測(cè)試
無(wú)液氦綜合物性測(cè)量系統(tǒng)（QD Dynacool）電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HMS-5000）精密阻抗分析儀（4294a）太陽(yáng)能電池性能測(cè)試（Newport PVIV-412V）鐵電測(cè)試系統(tǒng)（RTI-Multiferroic）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
無(wú)液氦綜合物性測(cè)量系統(tǒng)（QD Dynacool）
電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HMS-5000）
精密阻抗分析儀（4294a）
太陽(yáng)能電池性能測(cè)試（Newport PVIV-412V）
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)
網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）
穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
材料熱學(xué)性能測(cè)試
激光導(dǎo)熱儀（LFA 457）差示掃描量熱儀（DSC Q2000）熱電性能測(cè)試系統(tǒng)（ZEM-3）熱重分析儀（TG-Q500）熱重差示熱分析儀（HT1600）熱膨脹系統(tǒng)測(cè)試儀（耐馳 DIL402PC）機(jī)械熱分析（TMA402F3）DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TA Q800)
激光導(dǎo)熱儀（LFA 457）
差示掃描量熱儀（DSC Q2000）
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熱重差示熱分析儀（HT1600）
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原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（TriboIndenter）
納米壓痕劃痕測(cè)試儀（安東帕 NHT2）
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三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）元素分析儀?(德國(guó)elementar 公司?vario EL cube)液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）固體核磁波譜儀（VNMRS600）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）全自動(dòng)比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）接觸角測(cè)量?jī)x（OCA20）Zeta電位儀（Nano-ZS90）電化學(xué)工作站（Parstat PMC）
三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）
元素分析儀?(德國(guó)elementar 公司?vario EL cube)
液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）
固體核磁波譜儀（VNMRS600）
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）
全自動(dòng)比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）
接觸角測(cè)量?jī)x（OCA20）
Zeta電位儀（Nano-ZS90）
電化學(xué)工作站（Parstat PMC）
全自動(dòng)物理/化學(xué)吸附分析儀（康塔Quantachrome AutosorbiQ-C）
四元液相色譜系統(tǒng) (1290 Infinity II)
顯微紅外光譜儀

測(cè)試項(xiàng)目

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￥400

￥150

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*新項(xiàng)目

四元液相色譜系統(tǒng) (1290）

鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

電子背散射衍射（EBSD-ME）

熱電性能測(cè)試系統(tǒng)（ZEM）

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